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四探針電阻率測試儀
點擊次數:2215 更新時間:2019-02-19

對于半導體材料的電阻率,一般采用四探針、三探針和擴展電阻。

電阻率是反映半導體材料導電性能的重要參數之一。測量電阻率的方法很多,四探針法是一種廣泛采用的標準方法。它的優(yōu)點是設備簡單、操作方便,度高,對樣品的形狀無嚴格要求。

常用的是直線型四探針。四根探針的針尖在同一直線上,并且間距相等,都是S,一般采用0.5mm的間距,不同的探針間距需要對測量結果做相應的校正。

一般目前的四探針電阻率(電導率)測試儀均已配置厚度的修正,通過厚度數值的設置,計算出不同的樣品厚度對電阻率的影響。

3.1.電阻率測量范圍、分辨率

率:10.0×10-6 k×200.0×103Ω-cm 分辨率1.0×10-6 0.1×103Ω-cm,k=110

3.2.電阻率量程劃分及誤差等級

滿度顯示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

量程

KΩ-cm

Ω-cm

mΩ-cm

基本誤差

±2%讀數±4

±1.5%讀數±4

±0.5%讀數

±2

±0.5%讀數

±4

3.3.數字電壓表:

量程:10mV 100 mV,自動

顯示: 4位有效數字,大顯示999.9,小數點、單位自動顯示

3.4.數控恒流源8檔寬量程

電流輸出:系統(tǒng)自動步進調整,直流電流0.1μA1.0μA,10μA,100μA1.0mA,10mA,100mA,1.0A8檔可調。

3.5.粉末測試臺部分參數:

1)試樣成份:成份不限,但不得含有對測試臺和電極有腐蝕作用的成份。

2)試樣粒度:推薦以40目以下—60目以上(標準篩網),一般其他粒度也可!

3)料杯容積:截面:S=1.0cm2

高度:020mm可調,

4)自動高度測試單元,測量誤差:±0.02mm。

四位有效顯示數00.0020.00mm,分別率±0.02mm。

5)自動壓強測試單元,

標準壓強:P0=4Mpa±0.05Mpa。
壓強量程:20Mpa, P=020 Mpa可調。

四位有效顯示數00.0020.00MPa,分別率±0.01 MPa。
6)、壓力機構采用手動操作、壓力平穩(wěn)可調。

3.6.配套PC軟件

1 USB高速通訊接口。

2帶數據庫方式存儲數據,便于歷史查詢和第三方軟件拓展共享。

3自動生成excel形式的圖表結合的測試報告,包含電阻率-壓強曲線圖形和詳細測試數據。

4帶測試報告預覽、編輯、打印功能。

3.7.測試儀外形與重量

前寬××總高=250mm×220 mm×540mm

=10Kg

3.8.電源:

耗:< 10W

輸入:220V±10% 50Hz

3.9.本儀器工作條件為:

度: 0-40℃

相對濕度: ≥60%

工作室內應無強電磁場干擾,不與高頻設備共用電源。

 

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